স্বয়ংক্রিয় তিন সঙ্গে লেজারের ফোকাসিং এক্স রে প্রতিপ্রভ যন্ত্রপাতি - মাত্রিক নমুনা পর্যায়

EDXRF-UN3D শক্তি ডিসপোসিভ এক্স-রে পারফেকসেনস (ED-XRF) স্পেকট্রমিটার এক্সপ্রেস এক্সপেরিয়েন্সের নতুন নতুন মাত্রার পারফরমেন্স

Unicomp Technology EDXRF- ইউএন 3 ডি সুপার এক্স-রে ফ্লোরোসেসেন্স স্পেকট্রমিট্রি (এক্সআরএফ) বিনাশ ছাড়াই দ্রুত লেপের পুরুত্ব বিশ্লেষণ করতে পারে, কোন উপভোক্তা উপাদান প্রয়োজন হয় না এবং শুধু খুব কম রক্ষণাবেক্ষণ খরচ প্রয়োজন। সাধারণত বিশ্লেষণ বিশ্লেষণের প্রয়োজন মাত্র 30 সেকেন্ড। লেপ উপাদান এবং স্তর সংখ্যা গ্রাহকের প্রয়োজন অনুযায়ী কনফিগার করা যাবে। মূল উপাদান - উচ্চ-ভোল্টেজ পাওয়ার সাপ্লাই এবং এক্স-রে ডিটেক্টর মূল আমদানি করা। বিশেষ বিশ্লেষণ EDXRF-UN3D ওয়ার্কস্টেশন সফটওয়্যার ছাড়াও আবরণ বেধ পরিমাপ এছাড়াও RoHS / ELV / হ্যালোজেন-মুক্ত বিশ্লেষণ করতে।

বৈশিষ্ট্য

একটি সদৃশ ত্রিমাত্রিক নমুনা স্টেজ

3 ডি এক্স, ওয়াই, জেড স্টপপার মোটর কন্ট্রোল সিস্টেম, ক্যামেরা পরিচালনার সাথে সংযুক্ত, সফ্টওয়্যার নিয়ন্ত্রণের মাধ্যমে নমুনা আন্দোলন সক্ষম করে।

এক্স-রে ডাউন-আলোকসজ্জা, ফোকাস লেজার

এক্স-রে ডাউন-আলোকসজ্জা নকশা, অনিয়মিত আকৃতি নমুনার জন্য ফোকাস লেজার, কোন বিভাজন প্রয়োজন, সরাসরি পরীক্ষা করা যেতে পারে।

ছোট স্পট নকশা

সর্বনিম্ন স্পট মাত্র 0.1 মিমি, যা সঠিকভাবে হস্তক্ষেপ থেকে এড়ানো ছোট পরীক্ষা পয়েন্ট সনাক্ত করতে পারে। গ্রাহক প্রয়োজনীয়তা অনুযায়ী, Φ0.1 মিমি, Φ0.3 মিমি, Φ0.7 মিমি এবং Φ3.0 মিমি এর তিনটি কলিমারেট দ্রুত নির্বাচন করা যায়। নমুনা বিভিন্ন আকার পয়েন্টের পরীক্ষার চাহিদা পূরণ করুন

পরীক্ষা সময় নমনীয়তা সমন্বয়

বিভিন্ন উপাদান ধরনের নমুনা বিভিন্ন পরিমাপ সময় প্রয়োজন, এবং পরিমাপ দৈর্ঘ্য নমুনা ধরনের এবং গ্রাহকের সঠিকতা প্রয়োজনীয়তা অনুযায়ী সেট করা যেতে পারে। প্রচলিত লেপ পরীক্ষার বাইরের সর্বোচ্চ স্তর ± 5% এর চেয়ে ভাল এবং বাইরের স্তর ± 10% এর চেয়ে ভাল।

মাল্টি- বৈশিষ্ট নমুনা গুদাম

নমুনা নমুনা পরীক্ষা চাহিদা বিভিন্ন পূরণের নমুনা বিভাগের মাপ বিভিন্ন!

পেরিফেরাল কনফিগারেশন